見證實力 | 走進飛凌嵌入式研發(fā)實驗室

原創(chuàng) 2024-03-30 09:04:00 研發(fā)實驗室

 研發(fā)實驗室是一家高新技術企業(yè)技術實力與創(chuàng)新動能的核心,一個設備齊全、流程規(guī)范、標準嚴格的實驗室,能夠確保產品功能的先進性、運行的穩(wěn)定性和質量的可靠性,使產品在激烈的市場競爭中脫穎而出。十八年來,飛凌嵌入式已成功幫助上萬家企業(yè)完成了產品的快速開發(fā)上市,并為數(shù)千家企業(yè)穩(wěn)定批量供應核心板卡等產品,耀眼成績的背后,離不開研發(fā)實驗室的有力支撐。


一、自建千萬級實驗室,國家標準嚴苛測試

飛凌嵌入式設有3個研發(fā)實驗室,分別是物理環(huán)境實驗室、電磁兼容實驗室和穩(wěn)定性實驗室,承載的測試項目包含10個大項,每一項測試都旨在模擬產品在實際應用中可能遇到的各種極端條件,從而確保產品能夠在多種復雜環(huán)境下都能穩(wěn)定運行。

1 、物理環(huán)境實驗室

(1) 高低溫/溫度變化/濕熱試驗

高低溫試驗:設備(產品)的運行環(huán)境溫度會對設備正常運行性能產生一定的影響,嚴重時會導致設備故障或損壞。高低溫試驗就是檢驗電子電氣產品承受這種環(huán)境溫度的適應能力——通過模擬極端的高溫(最高+125℃)和低溫環(huán)境(最低-55℃),測試產品在極端溫度下的工作性能。

溫度變化試驗:溫度變化試驗同樣需要使用到高低溫試驗箱,通過一次或多次的快速溫度變化試驗檢測產品承受這種環(huán)境溫度變化的適應能力。

濕熱試驗:環(huán)境溫度或濕度的變化會對設備正常運行性能產生一定的影響,嚴重時會導致設備故障或損壞。濕熱試驗就是檢驗電子電氣產品承受這種環(huán)境溫濕度變化的適應能力。濕度范圍為20%~98%RH。


高低溫及濕度試驗箱


(2) 振動試驗/沖擊/碰撞試驗

振動試驗是仿真產品在運輸、安裝及使用環(huán)境中所遭遇到的各種振動環(huán)境影響,用來確定產品是否能夠承受各種環(huán)境的振動。頻率范圍為2-2000Hz,最大振動加速度達981m/s2。

沖擊/碰撞試驗一般是確定設備在經受外力沖撞或作用時產品的安全性、可靠性和有效性的一種試驗方法。本試驗模擬產品在使用過程中可能遭受的沖擊和碰撞,沖擊類型涵蓋半正弦波、前峰鋸齒波、后峰鋸齒波、三角波、矩形波、梯形波和鐘形波,額定推力10kN(1000kgf)。


振動試驗系統(tǒng)


(3) 鹽霧試驗

考慮到某些客戶會將產品應用于含鹽潮濕的環(huán)境中,因此鹽霧試驗就必不可少。鹽霧試驗模擬海洋或含鹽潮濕地區(qū)氣候的環(huán)境,用于考核產品、材料及其防護層抗鹽霧腐蝕能力。

鹽霧腐蝕試驗箱


(4) 跌落試驗

為了確定產品在搬運期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應性,飛凌嵌入式通過跌落試驗機模擬產品意外跌落的情況,檢驗產品的結構完整性和功能保持能力,或確定安全要求用的最低牢固等級。跌落測試高度最高達到了1500mm。


跌落試驗機

2、電磁兼容實驗室

(1) 靜電放電抗擾度試驗

在電子設備的運行過程中,常常會遭受靜電放電騷擾,而短暫且強大的放電電流和由電流產生的電磁場可能會引起電子電氣設備的電路發(fā)生故障和損壞。靜電放電抗擾度試驗的目的就是用來檢驗電子電氣設備承受這類電磁騷擾的能力。

靜電放電模擬器



(2) 電快速瞬變脈沖群抗干擾度試驗

由于開關觸點間隙的絕緣擊穿或觸點彈跳等原因,開關在斷開電感性負載(如繼電器,接觸器等)時會在斷開點處產生一種能量較小、單頻譜很寬的暫態(tài)干擾,這種干擾會對電子電氣產品的可靠工作帶來很大的威脅。電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗就是用來檢驗電子電氣設備承受這類干擾的能力。

(3) 浪涌(沖擊)抗干擾度試驗

高壓開關操作或雷擊等都可能在電網或通信線上產生暫態(tài)過電壓或過電流,這是一種能量較大的電磁騷擾,這種騷擾可能會引起電子電氣設備的電路發(fā)生故障或損壞。浪涌(沖擊)抗擾度試驗可以檢驗電子電氣產品承受這種電磁騷擾的能力。


組合式抗干擾度測試系統(tǒng)


(4) 絕緣電阻試驗

絕緣電阻試驗是測試電氣設備絕緣層在直流電壓作用下呈現(xiàn)的電阻值。采用絕緣電阻測試儀檢測產品的絕緣性能,確保產品在電氣安全方面的合規(guī)性。試驗電壓范圍為250V~1000V。


絕緣電阻測試儀


3 、穩(wěn)定性實驗室

(1) 穩(wěn)定性試驗

在設備長時間運行、多次加電或重啟的過程中,設備器件會因為老化、電氣參數(shù)臨界或軟件邏輯設計不合理而導致概率性出現(xiàn)異常,出現(xiàn)設備不能正常運行、啟動或重啟的現(xiàn)象,會大幅度降低設備的可靠性。穩(wěn)定性試驗就是驗證設備長時間運行、多次加電、重啟過程中的可靠性能力的過程。


可編程多通道直流電源


(2) 接口一致性測試

通過有效的接口一致性測試,可以降低系統(tǒng)故障和風險,提升軟硬件質量,增加系統(tǒng)的可信度,確保各個組件之間的協(xié)調運作,降低系統(tǒng)故障和崩潰的風險。模擬帶寬23GHz,采樣率達100GS/s。

混合信號示波器


飛凌嵌入式研發(fā)實驗室配備國際先進的測試設備和儀器,以及一支由資深工程師和技術專家組成的專業(yè)研發(fā)實驗團隊,致力于通過一系列精確、嚴格的測試來確保每一款飛凌嵌入式產品都能達到行業(yè)領先標準。

二、持續(xù)發(fā)展,持續(xù)進步

飛凌嵌入式研發(fā)實驗室以其卓越的測試能力和專業(yè)的研發(fā)團隊,為企業(yè)產品的持續(xù)創(chuàng)新和品質提升提供了堅實的支撐。值得注意的是,飛凌嵌入式近期已啟動智慧園區(qū)改擴建項目,新園區(qū)規(guī)劃總辦公面積約31000平方米,將融合研發(fā)、生產、行政辦公及倉儲功能,構建一個高度數(shù)字化的綜合園區(qū)。



此次智慧化改造也將進一步提升實驗室的研發(fā)效率與試驗能力。相信飛凌嵌入式能夠在未來的發(fā)展中不斷創(chuàng)造新的輝煌,為我國嵌入式產業(yè)的繁榮做出更大的貢獻。







相關產品 >

  • FET3568-C核心板

    RK3568性能強而穩(wěn) 國產芯|飛凌嵌入式RK3568系列核心板,采用瑞芯微國產高性能AI處理器RK3568設計生產,RK3568兼具CPU、GPU、NPU、VPU于一身,RK3568 性能、性價比在同類產品中具有較高優(yōu)勢,RK3568處理器是一款定位中高端的通用型SoC, 飛凌RK3568核心板主要面向工業(yè)互聯(lián)網、HMI、NVR存儲、車載中控、工業(yè)網關等領域。目前RK3568系列已經批量穩(wěn)定出貨

    了解詳情
    FET3568-C核心板
  • FET62xx-C核心板

    FET6254-C核心板基于TI Sitara? AM62x系列工業(yè)級處理器設計。采用Arm Cortex A53架構,并集成了廣泛的接口,如2路支持TSN的千兆以太網、USB 2.0CAN-FD,AM6254核心板兼容AM62x全系列處理器,提供單核、雙核、四核可選,功能引腳完全兼容,飛凌嵌入式已經適配AM6254 AM6231 AM6232三款芯片為您帶來靈活的成本組合方案,AM62x可應用于廣泛的工業(yè)環(huán)境,如人機界面(HMI)、工業(yè)計算機、邊緣計算、零售自動化、充電樁控制單元(TCU)、醫(yī)療設備等。

    了解詳情
    FET62xx-C核心板
  • FET-MX9352-C核心板

    FET-MX9352-C核心板基于NXP i.MX9352處理器開發(fā)設計, i.MX9352集成2個Cortex-A55核和1個Cortex-M33實時核,主頻達1.5GHz, 原生支持8路UART、2路Ethernet(含1路TSN)、2路USB 2.0、2路CAN-FD總線等常用接口。飛凌iMX93x系列在經市場驗證的 i.MX 6和i.MX 8基礎上進行了升級,集成NPU 可加速邊緣機器學習應用,i.MX9352核心板體積小巧,便于嵌入到您的產品中。

    了解詳情
    FET-MX9352-C核心板
  • FET527N-C核心板

    全志8核 Cortex-A55 64位處理器T527,為您的AI應用賦能。FET527N-C核心板基于全志T527系列高性能處理器開發(fā)設計,集成了8個ARM Cortex-A55高性能核,同時內置1個RISC-V核和1個DSP核。 具有2TOPS算力的NPU,為您的AI應用賦能。核心板采用板對板連接方式,可插拔式設計便于產品的安裝與維護。 產品通過飛凌嵌入式實驗室嚴苛的工業(yè)環(huán)境測試,為您的產品穩(wěn)定性保駕護航。同時,F(xiàn)ET527N-C核心板具有10~15年生命周期,為您的產品提供持續(xù)供應保障

    了解詳情
    FET527N-C核心板

推薦閱讀 換一批 換一批